北京特博萬德提供3-8英寸硅外延片。
摻雜類型和晶向:P100,P111,N100,N111;
類型:P/P++, N/N++,N/N+, N/N+/N++,N/P/P,P/N/N+;
外延厚度:0.1-100um;
外延電阻率:0.001-100Ω.cm;
可加工定制,詳情請電聯(lián)!
北京特博萬德提供3-8英寸硅外延片。
摻雜類型和晶向:P100,P111,N100,N111;
類型:P/P++, N/N++,N/N+, N/N+/N++,N/P/P,P/N/N+;
外延厚度:0.1-100um;
外延電阻率:0.001-100Ω.cm;
可加工定制,詳情請電聯(lián)!
一、硅外延的定義 硅外延工藝實際上是一種薄層的單晶生長技術,它是在一定的條件下,在硅單晶的襯底片上,沿單晶的結晶方向生長一層具有一定導電類型,電阻率、厚度、晶格結構與體單晶一致的新單晶層。 | |||
二、硅外延生長工藝的優(yōu)點 1、 生長溫度比它本身的熔點要低; | |||
三、硅外延工藝的分類 1、 按結構分類 同質外延——即外延層在結構與性質上與襯底材料相同,例如N/N+,P/P+; | |||
四、硅外延的基本原理 硅化學氣相沉積外延生長其原理是在高溫(>1100℃)的襯底上輸送硅化合物(SiHCl3或SiCl4或SiH2Cl2等)利用氫(H2)在襯底上通過還原反應析出硅方法。 | |||
Certificate | |||
Substrate | Epi | ||
Diameter (mm) | Φ76.2+/-0.5 | Type/Dopant | N/PH |
Type/Dopant | P/Boron | Epi Resistivity(Ω.cm) | 0.003-0.005 |
Orientation | <111> | Epi Thickness(μm) | 25-30 |
Thickness(μm ) | 355-407 | Surface | Good |
Resistivity(Ω.cm) | 0.004-0.008 | Qty | 25PCS |